我们的远景

ELES的愿景是成为行业中使用RETE系统实现IC零缺陷的高可靠性系统解决方案的创新型领导者。

我们的使命

ELES的使命是为半导体行业提供最先进的系统和创新的成本优化测试解决方案，旨在提高可靠性和加快产品的上市时间。

半导体可靠性测试解决方案

已经持续了70多年的半导体革命所产生的那些最具影响力的半导体质量和可靠性的发明需要得到进一步的更新。自1988年以来，ELES一直致力于设计和制造创新的可靠性测试设备和夹具：为半导体行业提供解决方案和服务。在日常生活中出现越来越多的电子产品，包括它们关键性的安全进程，一旦放生芯片故障可能产生严重后果（例如汽车的自动驾驶），对核心组件提出了100％可靠的需求。凭借其创新能力和对客户需求的预期，ELES开发了名为RETE（可靠性嵌入式测试工程）的创新型可靠性测试方法。

RETE – 通往零缺陷

应用于集成电路设计，认证和制造生产阶段，RETE允许您全时测量设备的行为，保持激活并检测设备在其使用寿命期间可能发生的故障。这使您可以识别并消除低可靠性产生的根本原因并将缺陷率降低至零。

这为客户带来的好处是巨大的：零缺陷的生产过程，缩短上市时间和总体成本，提高生产效率。在ELES，我们坚信创新以及在客户反馈之前识别和解决客户问题的重要性。这就是ELES开发RETE的原因：因此我们是第一个也是唯一一个在市场上提供可靠性测试产品的供应商，让您达到零缺陷的产品生产目标。

监控 – 您的设备，全天候

在传统的可靠性流程中，一般通过对比在对设备施加压力前后从ATE机器获得的执行参数的不同来识别有缺陷的设备。
间歇性故障不会被识别，因为只要压力条件存在，它们通常会一直保持活动状态。

相反，使用RETE检测系统设备会随着时间的推移而受到监控，并且由于先进的算法，通过IP以及电刺激和热刺激的序列记录，可以尝试发现检测所潜在的可能故障，从而获取那些仅在设备受压时才可见的反馈信号。
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